近场测量在暗室内采集天线的近场幅度、相位信息，通过近远场变换获得天线的远场辐射特性和口面场分布。传统的近场测试系统采用单探头测试效率低，而且无法消除在长时间测试过程中由于线缆摆动、仪器设备温漂等带来的相位误差。只有解决了上述问题，才能实现相控阵天线的高精度和高效率的测试。多探头近场测试方案结合了国际先进的设备和公司的研究成果，将国内外先进测试技术、经典理论和工程实践进行完美融合。采用多探头测试技术极大提高测试速度；利用准实时补偿专利技术实现测试过程中的误差修正，测试结果精度高，保证测试数据的可靠性；并且具有完备的测试流程，实现天线的近场测试和诊断。
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主要功能特点
u 天线方向图测试 u 口面场反演及诊断 u 多探头快速测试 u 天线相位中心测试 u DBF天线测试与分析 u 接收和发射状态测试 u 连续波和脉冲状态测试 u 多通道、多频点、多波位同时测试 u 实时控制功能，提高测试速度 u 通道误差准实时补偿 u 波控接口定制化 u 系统仿真设计技术，提高系统设计可靠性   |
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主要性能特点 u 频率范围：1~40GHz（110GHz） u 动态范围：≥70dB u 测试误差（R.M.S）： l 增益：±0.2dB l 副瓣电平： -15dB副瓣时±0.5dB -20dB副瓣时±0.75dB -30dB副瓣时±1dB -40dB副瓣时±2dB l 多通道一致性：幅度±0.3dB，相位±4°
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