首页 > 测量系统 > 相关产品 > 天线产品 > 双极化低散射探头

产品概述

双极化低散射探头用于平面近场测量的高性能开口波导探头,采用了公司的最新技术,具有宽频带、双极化、低散射、高交叉极化等特点,有效提高了平面近场测量的精度和效率。

产品特点

  • 宽频带,减少探头更换的频率
  • 双线极化,双线极化波束重合度高
  • 天线端口之间隔离度高
  • 接收灵敏度高,驻波小
  • 低散射特性,口径小,降低探头对待测天线辐射场的扰动
  • 极化纯度高,降低探头的交叉极化信号对测量的干扰
  • 小型化,结构紧凑,稳定可靠,适合工程应用

典型指标

参数 探头1 探头2 探头3 探头4 探头5 探头6 探头7 探头8
工作频带(GHz) 1-2 2-4 4-8 5.84-12 8-16 12-18 18-28 28-40
极化类型 双线极化 双线极化 双线极化 双线极化 双线极化 双线极化 双线极化 双线极化
高度(mm) 353. 5 278.3 147.6 145.5 129 117.9 79 55.7
增益(dBi) 7.7-11.3 7.6-9.7 6.8-8.7 7.3-9.0 7.8-9.0 8.1-10.6 8.3-10.0 8.6-9.4
驻波比 < 2 < 2 < 2 < 2 < 2 < 2 < 2 < 2
反射系数(dB) <-10 <-10 <-10 <-10 <-10 <-10 <-10 <-10
端口隔离度(dB) >66 >50 >46 >44 >45 >45 >39 >50
交叉极化辨识度(dB) >48 >45 >40 >40 >40 >40 >38 >40
半功率波束宽度(E×H) 47°×72° 51°×75° 58°×81° 63°×79° 58°×77° 64°×83° 49°×78° 55°×66°
特性阻抗(Ω) 50 50 50 50 50 50 50 50

应用

  • 平面/柱面近场测量系统
在线咨询

提示

X

确认