产品概述
霍莱沃依据应用场景、测试需求及场地实况为客户提供定制化的紧缩场测量系统。紧缩场测量系统利用反射面将球面波在近距离转换成平面波，为待测相控阵产品测试提供一个性能优良的平面波照射环境，同时可在暗室内完成较大尺寸的产品测量。该系统可提供在1GHz至40GHz（110GHz）频率范围内的高质量的RCS测试结果。
功能特点
- 幅度方向图和相位方向图测试
- 波束指向、零深、副瓣、增益、轴比、相位中心测试
- EIRP及G/T值测试
- 连续波和脉冲测试
- 天线收、发状态测试
- 多通道、多频点、多波位同时测试
- 实时控制功能，提高测试速度
典型指标
- 幅度锥削：≤1dB
- 幅度波纹：±0.5dB
- 相位变化：±8°
- 交叉极化：≤30dB（静区中心）
- 动态范围：≥60dB
- 增益测量精度：±0.25dB
- 副瓣电平测量精度：
-10dB副瓣时±0.5dB
-20dB副瓣时±1dB
-30dB副瓣时±1.5dB
频率范围
- 1~40GHz（110GHz）
待测物的最大尺寸
- 小型：0.5~2m
- 中型：2~5m
- 大型：5~12m
- 定制
沪公网安备 31011502019272号