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多探头近场测试系统

近场测量在暗室内采集天线的近场幅度、相位信息,通过近远场变换获得天线的远场辐射特性和口面场分布。传统的近场测试系统采用单探头测试效率低,而且无法消除在长时间测试过程中由于线缆摆动、仪器设备温漂等带来的相位误差。只有解决了上述问题,才能实现相控阵天线的高精度和高效率的测试。多探头近场测试方案结合了国际先进的设备和公司的研究成果,将国内外先进测试技术、经典理论和工程实践进行完美融合。采用多探头测试技术极大提高测试速度;利用准实时补偿专利技术实现测试过程中的误差修正,测试结果精度高,保证测试数据的可靠性;并且具有完备的测试流程,实现天线的近场测试和诊断。



主要功能特点

u 天线方向图测试

u 口面场反演及诊断

u 多探头快速测试

u 天线相位中心测试

u DBF天线测试与分析

u 接收和发射状态测试

u 连续波和脉冲状态测试

u 多通道、多频点、多波位同时测试

u 实时控制功能,提高测试速度

u 通道误差准实时补偿

u 波控接口定制化

u 系统仿真设计技术,提高系统设计可靠性



主要性能指标

u 频率范围:1~40GHz(110GHz)

u 动态范围:≥70dB

u 测试误差(R.M.S):

l 增益:±0.2dB

l 副瓣电平:

-15dB副瓣时±0.5dB

-20dB副瓣时±0.75dB

-30dB副瓣时±1dB

-40dB副瓣时±2dB

l 多通道一致性:幅度±0.3dB,相位±4°



联系方式
上海市浦东新区郭守敬路498号16号楼102室

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