首页 > 测量系统 > 相控阵校准测量 > 近场测量 > 多探头平面近场测量系统

产品概述

霍莱沃基于应用场景、测试需求及场地实况为客户提供定制化的多探头平面近场测量系统。系统利用高精度定位设备,配合多个双极化探头及探头开关,实现天线近场距离下的幅度、相位信息快速采集,通过严格的近远场变换算法获取天线的远场辐射特性和口面场分布。依据定位设备数据采集方向可分为垂直近场扫描与水平近场扫描,系统大幅度缩短了大型相控阵天线、大口径天线的测试距离,实现1GHz至40GHz(110GHz)频率范围内的暗室内测量。

功能特点

  • 幅度方向图和相位方向图测试
  • 双线极化多探头测试
  • 口面场反演及诊断
  • 波束指向、零深、副瓣、增益、轴比、相位中心测试
  • DBF天线测试与分析
  • 连续波和脉冲测试
  • 天线收、发状态测试
  • 多通道、多频点、多波位同时测试
  • 实时控制功能,提高测试速度

典型指标

  • 探头数量:4/8/16/定制
  • 动态范围:≥60dB
  • 增益测量精度:±0.25dB
  • 副瓣电平测量精度:

    -10dB副瓣时±0.75dB
    -20dB副瓣时±1.2dB
    -30dB副瓣时±2.0dB

频率范围

  • 1~40GHz(110GHz)
在线咨询

提示

X

确认