为各类相控阵测量提供完整解决方案,包括近场测量(平面/柱面/球面)、远场测量、紧缩场测量,测试精度高,测试效率快。
包括水平/垂直平面近场测量(单探头、多探头)、柱面近场测量、球面近场测量,可对待测产品近场空间幅相数据采样,近远场变换推算远场方向图数据。
平面近场测量系统
多探头平面近场测量系统
柱面近场测量系统
球面近场测量系统
多探头球面近场测量系统
包含室外远场和室内远场两种,可对天线部件及整机的辐射性能进行测量 。
室内远场测量系统
室外远场测量系统
包括单反射面型、双反射面型及三反射面型和小型紧缩场,可对微波与毫米波天线进行测量。
紧缩场测量系统
一体化紧缩场测量系统
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